高耐圧CMOSプロセス
- 40V耐圧の1umCMOSプロセスです。
- MOSトランジスタ、拡散抵抗、ポリシリ抵抗、MOS容量を含みます。
- 車載用の他、産業用、民生用と幅広くお使いいただけます。
- 当社にて設計受託が可能な他、ケイデンス製EDAに対応したPDK、OSS（※1）に対応したPDKが提供可能です。
- PDKをご利用のお客さま向けに、MLM（※2）、MPW（※3）など開発費を削減するオプションの提供が可能です。
- ※1OSS: OpenSource Software
- ※2MLM: MultiLayer Mask
- ※3MPW: Multipurpose Wafer
高耐圧BiCDMOSプロセス
- 40V耐圧の1.2umBiCDMOSプロセスです。
- エピウェハ上にMOSトランジスタ、拡散抵抗、ポリシリ抵抗、MOS容量の他、DMOS（※1）、バイポーラトランジスタを形成するため、電流を流すアプリケーションに向いています。
- 車載用の他、産業用、民生用と幅広くお使いいただけます。
- 当社にて設計受託が可能な他、ケイデンス製EDAに対応したPDKが提供可能です。
- PDKをご利用のお客さま向けに、MLM（※2）、MPW（※3）など開発費を削減するオプションの提供が可能です。
- ※1DMOS: Double Diffusion MOS
- ※2MLM: MultiLayer Mask
- ※3MPW: Multipurpose Wafer
AMRセンサプロセス
- AMR（異方性磁気抵抗効果※）センサプロセスです。
- 磁場の方向が検出可能なセンサをカスタム設計することができます。
- お客さまオリジナルの仕様への対応が可能です。磁器センサに関する知見も活かして、お客さまの希望のセンシングを実現します。
- 信号処理ICを合わせて提供することも可能です。
- ※異方性磁気抵抗効果：磁場と抵抗体の交差する角度により、抵抗値が変化する現象。
電気特性評価（W/T、F/T）
- Wafer Test、Final Test用の設備を自社保有しています。
- ノウハウが必要な磁気検査は専用設備を開発し対応しています。
- トレーサビリティの確立に重要な長期間のデータ保管にも対応しています。
信頼性試験（AEC-Q100対応）
- AEC-Q100の信頼性試験項目に対応した評価設備を保有しています。
- お客さまのご要望に応じて、信頼性試験を実施します。
- 信頼性試験時に発生したNG品は、社内の解析設備で迅速に解析する体制を整えています。
